JIMÉNEZ-NOVOA, D. S.; GONZÁLEZ-BUSTAMANTE, J. S.; APERADOR-CHAPARRO, W. Dispositivo de alineación de muestras para el difractómetro de rayos X con control de posición e interfaz de manipulación. Respuestas, [S. l.], v. 22, n. 1, p. 84–95, 2017. DOI: 10.22463/0122820X.856. Disponível em: https://revistas.ufps.edu.co/index.php/respuestas/article/view/856. Acesso em: 27 jun. 2022.