[1]
D. S. Jiménez-Novoa, J. S. González-Bustamante, y W. Aperador-Chaparro, «Dispositivo de alineación de muestras para el difractómetro de rayos X con control de posición e interfaz de manipulación», Respuestas, vol. 22, n.º 1, pp. 84–95, ene. 2017.