Análisis de la fuerza transversal en las aproximaciones de Rayleigh y Mie para un rayo de captura TEM00 y TEM*01

Analysis of the Transverse Force in the Rayleigh and Mie Approximations for a Capture Beam TEM00 and TEM*01

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Resumen

Las pinzas ópticas utilizan un rayo láser altamente enfocado para capturar y manipular objetos micro y nanométricos. Se ha demostrado que son un dispositivo prometedor para la investigación de vanguardia en varios campos, como la microbiología y la biofísica. La predicción de las fuerzas ópticas presentes en este fenómeno es un problema actual en continua evolución. Además, el reciente uso de haces de vórtice con propiedades exóticas como el momento angular orbital, con ventajas como la manipulación rotacional de las micropartículas capturadas y la reducción del daño óptico en las muestras biológicas (Opticution), hace que el problema sea aún más complejo. Se presentan expresiones matemáticas en los regímenes de Rayleigh y Mie para la fuerza de radiación sobre una esfera dieléctrica capturada por los haces de los modos TEM00 y TEM*01. A continuación se comparan los resultados teóricos con las mediciones experimentales obtenidas con un dispositivo de medición directa de la fuerza basado en la detección del momento de la luz.

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